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	NI推出高精度多功能USB接口数据采集设备
	合众达代理泰克最新示波器解决方案
	ACS测试系统将圆片级可靠性测试速度提高五倍
	突破性的 KLA-Tencor 技术--通过识别可印刷缺陷实现高等级光罩检测
	THE MATHWORKS 为安全关键系统提供自动化模型检查支持
	RIGOL推出使用寿命更长、稳定性更高的数字示波器
	赛普拉斯针对 PSoC Designer™ 与 PSoC Express™ 设计环境推出全新的带免费“Lite”模式的 HI-TECH 编译器
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	HE MATHWORKS宣布针对SYNOPSYS VCS MX的EDA SIMULATOR LINK DSMATLAB和 Simulink与Synopsys VCS MX之间的协同仿真接口加速硬件验证
	安森美半导体推出应用于高速联网和自动测试设备的新器件
	泛华测控DAQ事业部网站正式开通
	AEROFLEX 推出5800系列自动测试机已完全集成边界扫描功能(JTAG)
	安捷伦科技推出FlexRay车用通讯总线量测应用软件
	NI发布USB总线的数字化仪和数字万用表
	NI 发表 LabVIEW 8.5 控制设计与仿真模块
	安捷伦和Azimuth Systems推出首款全面的固定/移动融合测试解决方案
	安捷伦推出第一部脉冲函数任意波形噪声发生器
	NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块
	泰克推出混合信号示波器组件逻辑探头
	LeCroy混合信号选件提升其示波器性能

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